廣州金程科學(xué)儀器公司供應(yīng)的日立紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)UH4150，可實(shí)現(xiàn)高精度測定，是光學(xué)材料、元件、新材料開發(fā)等領(lǐng)域的有力的分析工具。可根據(jù)應(yīng)用目的靈活配置或組合附件，搭建用戶的專用測量體系。HITACHI日立固體分析近紅外分光光度計(jì)

具備優(yōu)異的性能和專業(yè)的附件，是評價(jià)其光學(xué)性能的可靠工具。

高可靠性與實(shí)用性的光學(xué)技術(shù)

利用平行光束可準(zhǔn)確測定透過率與反射率

采用檢測器切換時(shí)信號水平差異小的光學(xué)系統(tǒng)

使用棱鏡-光柵雙單色器可同時(shí)實(shí)現(xiàn)低散射光和低偏振

豐富的附件可滿足各種測定需求

檢測器種類豐富

提供滿足不同需求的附件

設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)

特點(diǎn)：

切換檢測器波長時(shí)會(huì)產(chǎn)生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測定

安裝在積分球上的多個(gè)檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內(nèi)進(jìn)行測定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號處理技術(shù)等，將檢測器切換時(shí)（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。

日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振

UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學(xué)系統(tǒng)，秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn)。棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測定。

平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測定

入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會(huì)聚光束，由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會(huì)不同，因此，像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計(jì)值將與實(shí)際測定值不同。 但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴(kuò)散率（霧度）的評價(jià)和透鏡透過率的測定。

可提供適合不同測定目的的多種檢測器

可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。

采用全新人體工學(xué)設(shè)計(jì)

改進(jìn)樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì)。

兼容多種U-4100附件

通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。

比U-4100型更高的樣品通量

在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時(shí)，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測定時(shí)，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測定，顯著縮短測定時(shí)間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內(nèi)測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。

配置：

日立紫外/可見/近紅外分光光度計(jì)UH4150信息由廣州金程科學(xué)儀器有限公司為您提供。HITACHI日立固體分析近紅外分光光度計(jì)